S-MFMR - NanoWorld®

类型: S-MFMR

软磁涂层 - 磁性力调制显微镜 - 反射涂层

悬臂数据	数值	范围*
共振频率	75 kHz	60 - 90 kHz
力常数	2.8 N/m	1.2 - 5.5 N/m
长度	225 µm	220 - 230 µm
评价宽度	28 µm	22.5 - 32.5 µm
厚度	3 µm	2.5 - 3.5 µm

*典型值

如何优化AFM扫描参数

如何在 Bruker® AFM 系统上使用

Point Probe AFM tip

产品说明

NanoWorld® Pointprobe® S-MFMR AFM 探针是专为用于测量软磁样品中的磁畴而设计的。由于软磁针尖涂层的低矫顽力，针尖的磁化很容易被硬磁样品重新定向。

Pointprobe ®系列的所有探针由单片硅制成，高度掺杂以消散静电荷。针尖的形状类似于基于多边形的金字塔，典型高度为 10-15 µm。

此外，这探针还提供独特的功能：

针尖侧面的软磁涂层（矫顽力约 7.5 Oe，剩磁约 225 emu/cm3）
有效磁矩是标准探针的 0.75
镀涂层针尖的针尖曲率半径
30 nm
磁分辨率优于 35 nm

悬臂的梯形横截面和因此以30%（例如 NCH）更宽的悬臂探测器侧导致更容易和更快的激光调整。此外，因为有更多的空间来放置和反射激光束，所以可以达到更高的 SUM 信号。

探针形状: 标准

涂层: 磁的

软磁涂层/铝反射涂层

软磁涂层由沉积在悬臂尖端侧的薄软磁层组成。矫顽力是app。 7.5 Oe 和剩磁为 app。 225 emu/cm3（这些值是在平面上确定的）。我们建议在测量前使用强磁铁（例如 NdFeB 磁铁，尺寸为几毫米）对针尖进行磁化。

悬臂检测器侧沉积的铝反射涂层增强了反射率激光束并防止光干扰悬臂梁。由于涂层几乎无应力，因此应力引起的悬臂弯曲小于 2 度。