类型: SSS-SEIH
SuperSharpSilicon™ - SEIKO 仪器显微镜 - 非接触模式 - 高力常数
悬臂数据 | 数值 | 范围* |
---|---|---|
共振频率 | 130 kHz | 110 - 150 kHz |
力常数 | 15 N/m | 9 - 25 N/m |
长度 | 225 µm | 220 - 230 µm |
评价宽度 | 33 µm | 27.5 - 37.5 µm |
厚度 | 5 µm | 4.5 - 5.5 µm |
*典型值
SuperSharpSilicon™ Tip (SSS)
NanoWorld® Pointprobe® SEIHR 探针是专为使用非接触模式的Seiko仪器显微镜的所有者而设计的。 Pointprobe®系列的所有探针由单片硅制成,高度掺杂以消散静电荷。它们是化学惰性的,并提供高机械 Q 因子以实现高灵敏度。针尖的形状类似于基于多边形的金字塔,典型高度为 10 - 15 µm.
为了提高纳米结构的分辨率和微观粗糙度,我们开发了先进的针尖制造工艺,使 SuperSharpSilicon™ 针尖具有无与伦比的清晰度。
这探针具有独特的功能:
- 典型的针尖曲率半径为 2 nm
- 保证针尖曲率半径为 5 nm(产率 >80%)
- 半锥角< 10°在针尖的最后 200 nm 处
悬臂的梯形横截面和因此以30%(例如 NCH)更宽的悬臂探测器侧导致更容易和更快的激光调整。此外,因为有更多的空间来放置和反射激光束,所以可以达到更高的 SUM 信号。
探针形状: 超锐利
涂层: 无
NanoWorld® Pointprobe® SuperSharpSilicon™ 针尖 (SSS) 视频截屏
NanoWorld AG
Rue des Saars 10
CH-2000 Neuchâtel,
Switzerland
www.nanoworld.com
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