类型: SEIHR
SEIKO 仪器显微镜 - 非接触模式 - 高力常数 - 反射涂层
悬臂数据 | 数值 | 范围* |
---|---|---|
共振频率 | 130 kHz | 110 - 150 kHz |
力常数 | 15 N/m | 9 - 25 N/m |
长度 | 225 µm | 220 - 230 µm |
评价宽度 | 33 µm | 27.5 - 37.5 µm |
厚度 | 5 µm | 4.5 - 5.5 µm |
*典型值
Point Probe AFM tip
NanoWorld® Pointprobe® SEIHR 探针是专为使用非接触模式的精工仪器显微镜的所有者而设计。Pointprobe® 系列的所有 SPM 和 AFM 探针均由单片硅制成,该硅经过高度掺杂以消散静电荷。它们是化学惰性的,并提供高机械 Q 因子以实现高灵敏度。这些探针形状类似于基于多边形的金字塔,典型高度为 10 - 15 µm。
此外,这探针的针尖曲率半径小于 8 nm。
悬臂的梯形横截面和因此以30%(例如 NCH)更宽的悬臂探测器侧导致更容易和更快的激光调整。此外,因为有更多的空间来放置和反射激光束,所以可以达到更高的 SUM 信号。
探针形状: 标准
NanoWorld® Pointprobe® 硅 AFM 探针视频截屏(标准探针)
NanoWorld AG
Rue des Saars 10
CH-2000 Neuchâtel,
Switzerland
www.nanoworld.com
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